DZ/T 0101.12-1994
现行
QJ 2648.2-1994
现行
行业标准-航天
QJ 2648.2-1994 STE总线 机械结构
QJ 2648.2-1994
价格:
$ 30
基本信息
标准编号:
QJ 2648.2-1994
标准类型:
行业标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
计算机设备
国际标准分类名称:
-
发布日期:
1994-04-27
实施日期:
1994-11-25
页数:
19 页
研制信息
起草单位:
中国航天工业总公司测控公司
起草人:
侯欣、奚全生、百晓路
同系列标准
引用标准
GB/T 6587.1-1986 电子测量仪器 环境试验总纲
GB/T 6587.2-1986 电子测量仪器 温度试验
GB/T 6587.3-1986 电子测量仪器 湿度试验
GB/T 6587.4-1986 电子测量仪器 振动试验
GB/T 6587.5-1986 电子测量仪器 冲击试验
GB/T 6587.6-1986 电子测量仪器 运输试验
GB/T 6587.7-1986 电子测量仪器 基本安全试验
GB/T 6587.8-1986 电子测量仪器 电源频率与电压试验
GB 6833.1
GB 6833.10
GB 6833.2
GB 6833.3
GB 6833.4
GB 6833.5
GB 6833.6
GB 6833.7
GB 6833.8
GB 6833.9
QJ 1239.1-1987 电子设备环境试验条件和方法 总则
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QJ 1239.3-1987 电子设备环境试验条件和方法 低温试验
QJ 1239.4-1987 电子设备环境试验条件和方法 温度变化试验
QJ 1239.5-1987 电子设备环境试验条件和方法 低气压试验
QJ 1239.7-1987 电子设备环境试验条件和方法 砂尘试验
QJ 1239.8-1987 电子设备环境试验条件和方法 湿热试验
QJ 1239.9-1987 电子设备环境试验条件和方法 霉菌试验
QJ 1239.10-1987 电子设备环境试验条件和方法 盐雾试验
QJ 1239.12-1987 电子设备环境试验条件和方法 噪声试验
QJ 1239.13-1987 电子设备环境试验条件和方法 冲击试验
QJ 1239.14-1987 电子设备环境试验条件和方法 加速度试验
QJ 1239.11-1987 电子设备环境试验条件和方法 振动试验
采用标准
=ANSI/IEEE Std 1101-87