GB/T 4855-1984
Abolished
GB/T 42968.1-2023
Active
National standards
GB/T 42968.1-2023 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1:General conditions and definitions
GB/T 42968.1-2023 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1:General conditions and definitions
Basic Information
Standard Code:
GB/T 42968.1-2023
Standard Type:
National standards
Standard Status:
Active
is_force_gb:
no
CCS Name:
Semiconductor integrated circuits
ICS Name:
Integrated circuits, microelectronics
Publish Date:
2023-09-07
Implement Date:
2024-01-01
Publisher:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Technical Committee:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Pages:
21 pages
Scope
本文件定义了集成电路（IC）传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息，描述了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验报告内容。附录A中给出了试验方法的对照表，帮助选择适当的测量方法。
Development Information
Drafting Units:
中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、广州市诚臻电子科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、北京无线电计量测试研究所、上海市计量测试技术研究院、中国家用电器研究院、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、东南大学、深圳市北测标准技术服务有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、南京信息工程大学、中国信息通信研究院、中国合格评定国家认可中心、厦门海诺达科学仪器有限公司、苏州泰思特电子科技有限公司、郑州新基业汽车电子有限公司、北京邮电大学、南京容向测试设备有限公司、上海电器设备检测所有限公司、中国电子科技集团公司第三十二研究所
Drafting Persons:
崔强、付君、乔彦彬、郑益民、方文啸、吴建飞、叶畅、李楠、朱赛、杨红波、刘星汛、李金龙、张艳艳、白云、周香、刘小军、黄雪梅、陈燕宁、邵鄂、万发雨、臧琦、刘佳、梁吉明、胡小军、郭文明、张金玲、邢立文、张青青、张先利、陈梅双
Same series standard
Referenced Standards
IEC 62132-3
IEC 62132-4
Adopt standards
IEC 62132-1:2015
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