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GB/T 5594.8-2015 现行
GB/T 5594.8-2015 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8:Test method for microstructure
简介
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
通用商品信息
| 委员会 | 中国电子技术标准化研究院 |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 5594.8-2015 |
| CCS | 电子设备与专用材料、零件、结构件 |
| ICS | 电子技术专用材料 |
| 实施日期 | 2016-01-01 |
价格
$ 42
小计
$ 42
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 42