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JB/T 6220-2011 现行

JB/T 6220-2011 无损检测仪器 射线探伤用密度计

可用格式
PDF
语言
中文版
发布日期
2011-12-20

通用商品信息

委员会 全国试验机标准化技术委员会
文献类型 行业标准-机械
标准状态 现行
标准编号 JB/T 6220-2011
CCS X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
ICS 金属材料无损检测
实施日期 2012-04-01
价格 $ 20.00
小计 $ 20.00
税费 $ 0.00
订单总额(含税) $ 20.00

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