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GB/T 20724-2021 现行
GB/T 20724-2021 Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
简介
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注： 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀，用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。
通用商品信息
| 委员会 | 全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 20724-2021 |
| CCS | 电化学、热化学、光学式分析仪器 |
| ICS | 有关分析化学的其他标准 |
| 实施日期 | 2022-07-01 |
价格
$ 75
小计
$ 75
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 75