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DB32/T 3594-2019 现行
DB32/T 3594-2019 Test method for hot-spot endurability of crystalline silicon solar cells
简介
本标准规定了晶体硅太阳电池热斑耐久性能的试验原理、仪器设备、试验步骤和试验结果等。本标准适用于单晶硅、多晶硅太阳电池，也可用于经过封装，但电池的电路单独引出的样品。
通用商品信息
| 委员会 | 无锡市市场监督管理局 |
|---|---|
| 文献类型 | 江苏省地方标准 |
| 发布单位 | 江苏省市场监督管理局 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | DB32/T 3594-2019 |
| CCS | 太阳能 |
| ICS | 太阳能工程 |
| 实施日期 | 2019-04-30 |
价格
$ 32
小计
$ 32
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 32