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GB/T 26074-2010 现行
GB/T 26074-2010 Germanium monocrystal—Measurement of resistivity-DC linear four-point probe
简介
本标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。
本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的电阻率以及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片（简称圆片）的电阻率。测量范围为1×10-3Ω·cm～1×102Ω·cm。
通用商品信息
| 委员会 | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 26074-2010 |
| CCS | 半金属及半导体材料分析方法 |
| ICS | 金属材料的其他试验方法 |
| 实施日期 | 2011-10-01 |
价格
$ 50
小计
$ 50
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 50