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GB/T 46583-2025 现行
GB/T 46583-2025 微波介质陶瓷介电性能测试方法 开腔法、闭腔法
简介
本文件描述了微波介质陶瓷介电性能测试方法（开腔法与闭腔法）的测试原理、测试条件、仪器设备、测试样品、测试步骤、测试报告、计算过程及测量不确定度。
本文件适用于均匀的圆柱形微波介质陶瓷。开腔法中，测试频率范围为2 GHz~24 GHz，相对介电常数的测试范围为3~300，损耗角正切值的测试范围为10-4~6×10-3，谐振频率温度系数的测试范围为-1 500×10-6/℃~1 500×10-6/℃。闭腔法中，测试频率范围为1 GHz~32 GHz，相对介电常数的测试范围为3~300、损耗角正切值的测试范围为2×10-5~10-2。本文件也适用于其他低损耗、无磁性固体电介质微波介电性能的测试。
通用商品信息
| 委员会 | 全国工业陶瓷标准化技术委员会(SAC/TC 194) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 46583-2025 |
| CCS | 陶瓷、玻璃 |
| ICS | 高级陶瓷 |
| 实施日期 | 2026-05-01 |
价格
$ 50.00
小计
$ 50.00
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 50.00