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T/CASAS 029-2023 现行
T/CASAS 029-2023 Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法
简介
主要技术内容:T/CASAS 029—2023《Sub-6GHz GaN 射频器件微波特性测试方法》描述了Sub-6 GHz GaN 射频器件微波特性的详细测试方法。本文件适用于共源组成方式的GaN 射频器件，其它组成方式仅供参考。制定Sub-6 GHz GaN 射频器件微波特性的测试方法以及相关规范，对研发生产、性能评估、量产测试和应用评价等具有重要指导意义
通用商品信息
| 委员会 | 北京第三代半导体产业技术创新战略联盟 |
|---|---|
| 文献类型 | 团体标准 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CASAS 029-2023 |
| ICS | 半导体器分立件综合 |
| 实施日期 | 2023-07-01 |
价格
$ 20.00
小计
$ 20.00
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 20.00