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T/CNS 82-2022 现行
T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法
简介
范围:本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究; 主要技术内容:本文件规定了宇航用静态随机存储器（Static Random-Access Memory,SRAM）总剂量(total ionizing dose,TID)效应试验方法
通用商品信息
| 委员会 | 中国核学会 |
|---|---|
| 文献类型 | 团体标准 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CNS 82-2022 |
| CCS | 能源、核技术 |
| ICS | 核能综合 |
| 实施日期 | 2023-04-01 |
价格
$ 20.00
小计
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税费
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订单总额（含税）
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