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GB/T 22586-2018 现行
GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
简介
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。本标准适用于表面电阻的测试范围如下：--频率：8 GHz
通用商品信息
| 委员会 | 全国超导标准化技术委员会(SAC/TC 265) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 22586-2018 |
| CCS | 金属物理性能试验方法 |
| ICS | 金属材料的其他试验方法 |
| 实施日期 | 2018-10-01 |
价格
$ 68.00
小计
$ 68.00
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 68.00