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GB/T 44221-2024 现行
GB/T 44221-2024 Determination of wavefront aberration in optical systems—Electro-optical Shack-Hartmann method
简介
本文件描述了采用夏克-哈特曼法测量光学系统波前像差的原理及方法、测量条件、设备及装置、测量步骤以及测量数据处理。
本文件适用于采用夏克-哈特曼法测量光学系统波前像差的测量，也适用于光学零件面形偏差的测量。
通用商品信息
| 委员会 | 全国光测量标准化技术委员会(SAC/TC 487) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 44221-2024 |
| CCS | 光电子器件 |
| ICS | 有关光学和光学测量的其他标准 |
| 实施日期 | 2025-02-01 |
价格
$ 75
小计
$ 75
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 75