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GB/T 25185-2010 现行
GB/T 25185-2010 Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
简介
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
通用商品信息
| 委员会 | 全国微束分析标准化技术委员会 |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 25185-2010 |
| CCS | 基础标准与通用方法 |
| ICS | 化学分析 |
| 实施日期 | 2011-08-01 |
价格
$ 54
小计
$ 54
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 54