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GB/T 41805-2022 现行
GB/T 41805-2022 Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
简介
本文件描述了采用显微散射暗场成像法对光学元件表面疵病进行定量检测的检测原理、试验条件、仪器设备、样品、检测步骤、试验数据处理和检测报告。本文件适用于平板类双面抛光光学元件表面疵病的长度、宽度、挡光面积以及疵病位置检测。
通用商品信息
| 委员会 | 全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 41805-2022 |
| CCS | 仪器、仪表用材料和元件 |
| ICS | 玻璃综合 |
| 实施日期 | 2023-05-01 |
价格
$ 66
小计
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税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 66