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YS/T 34.1-2011 现行
YS/T 34.1-2011 Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Inductive coupling plasma mass spectrum (ICP-MS) for determinating the concentration of elements in the high-purity arsenic
简介
YS/T 34的本部分规定了高纯砷中金属杂质含量的测定方法，采用电感耦合等离子质谱法测定砷中镁、铬、镍、铜、锌、银、锑、铅、铋、钠、钾、铝、钙、铁等14个杂质含量。
本部分适用于99.999%～99.99999%高纯砷中金属杂质含量的测定。测定范围为1×10－7%～1 000×10－7%。
通用商品信息
| 委员会 | 全国有色金属标准化技术委员会 |
|---|---|
| 文献类型 | 行业标准-有色金属 |
| 发布单位 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | YS/T 34.1-2011 |
| CCS | 半金属及半导体材料分析方法 |
| ICS | 金属材料化学分析 |
| 实施日期 | 2012-07-01 |
价格
$ 32
小计
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税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 32