DZ/T 0101.12-1994
现行
SJ 20744-1999
现行
行业标准-电子
SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则
SJ 20744-1999 General rule of infrared absorption spectral analysis for the impurity concentration in semiconductor materials
价格:
$ 30
基本信息
标准编号:
SJ 20744-1999
标准类型:
行业标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
-
国际标准分类名称:
-
发布日期:
1999-11-10
实施日期:
1999-12-01
页数:
5 页
研制信息
起草单位:
电子工业部第四十六研究所
起草人:
何秀坤、汝琼娜、李光平、李静