GB/T 5295-1985
被代替
DB35/T 1370-2013
现行
福建省地方标准
DB35/T 1370-2013 发光二极管芯片点测方法
DB35/T 1370-2013
价格:
$ 30
基本信息
标准编号:
DB35/T 1370-2013
标准类型:
地方标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
微波、毫米波二、三极管
国际标准分类名称:
光电子学、激光设备
发布日期:
2013-12-04
实施日期:
2014-03-01
发布单位/组织:
福建省质量技术监督局
归口单位:
省信息化局
页数:
12 页
适用范围
本标准规定了发光二极管芯片（以下简称芯片）的点测条件和点测方法。 本标准适用于可见光发光二极管芯片光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测。紫外光、红 外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。 本标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试。
研制信息
起草单位:
厦门市三安光电科技有限公司、厦门市产品质量监督检验院、福建省光电行业协会、国家半导体发光器件（LED）应用产品质量监督检验中心
起草人:
蔡伟智、梁奋、李国煌、吕艳、时军朋、葛莉荭、黄松金、刘毅清、陈涛、兰国政