DZ/T 0101.12-1994
现行
QJ 2689-1994
现行
行业标准-航天
QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
QJ 2689-1994 X-ray photography inspection method for excess matter in electronic components
价格:
$ 30
基本信息
标准编号:
QJ 2689-1994
标准类型:
行业标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电子元件
国际标准分类名称:
-
发布日期:
1994-06-24
实施日期:
1994-12-01
页数:
7 页
研制信息
起草单位:
中国航天工业总公司五院和二院六九九厂
起草人:
夏泓、戴俊、刘世才、孙耀康
引用标准
GB 4792
GJB 548