GB/T 14145-1993 废止 国家标准

GB/T 14145-1993 硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法

GB/T 14145-1993 Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy

发布日期: 1993-02-06 实施日期: 1993-10-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 14145-1993
标准类型: 国家级标准
标准状态: 废止
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 金相检验方法
国际标准分类名称: 机上设备和仪器
发布日期: 1993-02-06
实施日期: 1993-10-01
发布单位/组织: 国家技术监督局
页数: 8 页

研制信息

起草人:

林敏敏、夏锦禄

字数: 6 千字 页数: 8 页

引用标准

采用标准

ASTM F522-84

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