GB/T 42706.6-2025 现行 国家标准

GB/T 42706.6-2025 电子元器件 半导体器件长期贮存 第6部分:封装或涂覆元器件

GB/T 42706.6-2025 Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 6:Package or finished devices

发布日期: 2025-10-31 实施日期: 2026-05-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们
价格: $ 36.00
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基本信息

标准编号: GB/T 42706.6-2025
标准类型: 国家级标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 微电路
国际标准分类名称: 电子元器件综合
发布日期: 2025-10-31
实施日期: 2026-05-01
发布单位/组织: 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位: 全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数: 16 页

适用范围

本文件规定了封装或涂覆元器件长期贮存方法和推荐条件,包括运输、控制以及贮存设施安全。长期贮存是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。本文件提供了有效进行封装或涂覆元器件长期贮存的理念、良好工作习惯和一般方法。

研制信息

起草单位:

中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、深圳创智芯联科技股份有限公司、中国核电工程有限公司河北分公司、厦门芯阳科技股份有限公司、河北新华北集成电路有限公司、山东芯诺电子科技股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、重庆万泰电力科技有限公司、江苏艾森半导体材料股份有限公司、广东工业大学、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市威兆半导体股份有限公司、广东瑞讯电子科技有限公司、迈世腾科技(山东)有限公司、江西华尔升科技有限公司、深圳市铨天科技有限公司、深圳市恒昌通电子有限公司、青岛芯源通电子有限公司、青岛航天半导体研究所有限公司、广州炫视智能科技有限公司、无锡新洁能股份有限公司、江苏长晶浦联功率半导体有限公司

起草人:

裴选、彭浩、姚玉、席善斌、魏肃、侯继儒、裴越、高东阳、尹丽晶、任怀龙、朱海马、陈钢全、张帆、刘宝玉、向文胜、李伟聪、李建平、陈新、陈云、于洪进、郑广辉、黄少娃、汤海涛、李治平、王蒙、吴振涛、杨少华、牛皓、朱袁正、杨国江、曲韩宾、高博

字数: 23 千字 页数: 16 页

同系列标准

引用标准

IEC 60749-20 IEC 60749-20-1 JEDEC J-STD-020 JEDEC J-STD-075

采用标准

IEC 62435-6:2018

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