DB13/T 6033-2024 现行河北省地方标准

DB13/T 6033-2024 半导体器件低浓度氢效应试验方法

DB13/T 6033-2024 Test method for low concentration hydrogen effect of semiconductor devices

发布日期: 2024-10-28 实施日期: 2024-11-28 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务，请联系我们

基本信息

标准编号: DB13/T 6033-2024

标准类型: 地方标准

标准状态: 现行

is_force_gb: no

中国标准分类名称: 半导体分立器件

国际标准分类名称: 半导体分立器件

发布日期: 2024-10-28

实施日期: 2024-11-28

发布单位/组织: 河北省市场监督管理局

研制信息

起草单位:

起草人:

相关标准

GB/T 7581-1987 现行

GB/T 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸

发布日期: 1987-03-21

GB/T 4586-1994 现行

GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

发布日期: 1994-12-30

GB/T 4587-1994 被代替

GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管

发布日期: 1994-12-30

GB/T 4937-1995 被代替

GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法

发布日期: 1995-12-22

GB/T 9313-1995 现行

GB/T 9313-1995 数字电子计算机用阴极射线管显示设备通用技术条件