DZ/T 0101.12-1994
现行
SJ 2757-1987
现行
行业标准-电子
SJ 2757-1987 重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法
SJ 2757-1987 Method of measurement by infra-red reflection for charge carrier concentraiton of heavily doped semiconductors
价格:
$ 30
基本信息
标准编号:
SJ 2757-1987
标准类型:
行业标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电子设备与专用材料、零件、结构件
国际标准分类名称:
-
发布日期:
1987-02-10
实施日期:
1987-07-01
页数:
5 页