GB/T 5295-1985
被代替
GB/T 17444-2013
现行
国家标准
GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
GB/T 17444-2013 Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
基本信息
标准编号:
GB/T 17444-2013
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
红外器件
国际标准分类名称:
光电子学、激光设备
发布日期:
2013-11-12
实施日期:
2014-04-15
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
工业和信息化部电子工业标准化研究所
页数:
26 页
适用范围
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。
研制信息
起草单位:
中国科学院上海技术物理研究所
起草人:
丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军