GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 45722-2025
现行
国家标准
GB/T 45722-2025 半导体器件 恒流电迁移试验
GB/T 45722-2025 Semiconductor devices—Constant current electromigration test
价格:
$ 36.00
基本信息
标准编号:
GB/T 45722-2025
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2025-05-30
实施日期:
2025-09-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
16 页
适用范围
本文件描述了金属互连线、连接通孔链和接触孔链的常规恒流电迁移试验方法。
研制信息
起草单位:
工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市威兆半导体股份有限公司、深圳市诚芯微科技股份有限公司、广东工业大学、中绍宣标准科技集团有限公司、深圳市天成照明有限公司
起草人:
章晓文、林晓玲、游海龙、周斌、尹丽晶、贺致远、来萍、张战刚、雷登云、王铁羊、孟苓辉、陈义强、彭浩、李伟聪、曹建林、崔从俊、林坚耿
采用标准
IEC 62415:2010