GB/T 6492-1986
被代替
GB/Z 119-2026
现行
国家标准
GB/Z 119-2026 晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测
GB/Z 119-2026 C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation(LETID) test—Detection
价格:
$ 36.00
基本信息
标准编号:
GB/Z 119-2026
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
物理电源
国际标准分类名称:
太阳能工程
发布日期:
2026-01-04
实施日期:
1970-01-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会(SAC/TC 90)
页数:
16 页
适用范围
本文件描述了晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）的试验方法，包括仪器装置、样品准备、测试步骤、结果处理和报告内容等。
本文件适用于晶体硅光伏组件，用于揭示样品对 LETID 衰减机制的敏感性，但不能精确测量其在户外实际的衰减情况。户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术。
研制信息
起草单位:
常熟阿特斯阳光电力科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、阿特斯阳光电力集团股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、东方日升新能源股份有限公司、上海电气集团股份有限公司、浙江鉴衡检测技术有限公司
起草人:
许涛、庄天奇、葛华云、黄婷、李振国、裴会川、郭素琴、冯春暖、刘亚锋、徐敏伟、陈磊
引用标准
GB/T 9535.1-2025 地面用光伏组件 设计鉴定和定型 第1部分:测试要求
GB/T 9535.2-2025 地面用光伏组件 设计鉴定和定型 第2部分：试验程序
IEC TS 61836
IEC 61215-1
IEC 61215-2
IEC TS 60904-13
ISO/IEC Guide 98-3:2008
采用标准
IEC TS 63342:2022