GB/T 14264-1993
被代替
T/UNP 743-2025
现行
团体标准
T/UNP 743-2025 半导体制冷器制冷性能测试方法
T/UNP 743-2025 The testing method for the refrigeration performance of a semiconductor cooler
价格:
$ 20.00
基本信息
标准编号:
T/UNP 743-2025
标准类型:
团体标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
-
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2025-06-18
实施日期:
2025-06-18
归口单位:
中国联合国采购促进会
适用范围
主要技术内容:本标准规定了半导体制冷器制冷性能测试的条件与设备、步骤、数据处理、结果判定及记录报告等内容，适用于该类设备制冷性能测试。旨在规范测试流程，助力企业参与国际贸易，提升产品国际竞争力，确保测试结果准确可靠，为行业提供统一技术依据。This standard specifies the conditions, equipment,procedures, data processing, result evaluation, and recording reports for the refrigerationperformance testing of semiconductor coolers, and is applicable to the refrigerationperformance testing of such devices. It aims to standardize the testing process, assist enterprisesin participating in international trade, enhance the international competitiveness of products,ensure the accuracy and reliability of test results, and provide a unified technical basis for theindustry.
研制信息
起草单位:
北京通达中苑标准技术服务有限公司、河南鸿昌电子有限公司、北京嘉鼎天铭信息服务有限公司、北京华宏中创信息咨询有限公司、许昌兴华汽配制造有限公司
起草人:
李鹏、陈建民、张文涛、郑雅倩、欧来万、李文鹏