GB/T 2413-1981
现行
GB/T 31379.3-2025
现行
国家标准
GB/T 31379.3-2025 平板显示器偏光片测试方法 第3部分:可靠性
GB/T 31379.3-2025 Test methods for polarizers of flat panel displays—Part 3:Reliability
基本信息
标准编号:
GB/T 31379.3-2025
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电子设备与专用材料、零件、结构件
国际标准分类名称:
电子技术专用材料
发布日期:
2025-10-05
实施日期:
2026-05-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
页数:
12 页
适用范围
本文件描述了平板显示器偏光片低温、高温、恒温恒湿、冷热冲击、光照老化、折叠屏用偏光片弯折的测试方法。
本文件适用于平板显示器用偏光片可靠性的测试。
研制信息
起草单位:
杉金光电(南京)有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳市三利谱光电科技股份有限公司、杉金光电(广州)有限公司、佛山纬达光电材料股份有限公司、TCL华星光电技术有限公司、杉金光电技术(张家港)有限公司、上海天马微电子有限公司、江西塔益莱高分子材料有限公司、宁波惠之星新材料科技股份有限公司、深圳赛时达科技有限公司、杭州凡诺电子有限公司、深圳市七彩虹禹贡科技发展有限公司
起草人:
朱志勇、吴怡然、刘革芳、李俊涛、赵俊莎、周文贤、黄卫东、滕海涛、曹可慰、薛祥、丁纪云、王光华、刘日明、熊羽、任程、霍丙忠、史泽远、张宝帅、宋路路、敖雪丽、金勇彪、董红星、刘超帅、蔡宁、陈银川、丁国亮、丁成龙、万山
同系列标准
引用标准
GB/T 150.1-2011 压力容器 第1部分:通用要求
GB/T 150.1-2024 压力容器 第1部分:通用要求
GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T 2423.2-2001 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
GB/T 2423.3-2016 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
GB/T 16422.2-1999 塑料实验室光源暴露试验方法 第2部分:氙弧灯
GB/T 16422.2-2014 塑料 实验室光源暴露试验方法 第2部分:氙弧灯
GB/T 16422.2-2022 塑料 实验室光源暴露试验方法 第2部分:氙弧灯
GB/T 31379.1-2025 平板显示器偏光片测试方法 第1部分:理化性能
GB/T 31379.2-2025 平板显示器偏光片测试方法 第2部分:光学性能
GB/T 38001.61-2019 柔性显示器件 第6-1部分:机械应力试验方法
相关标准
GB/T 3389.4-1982
被代替
GB/T 3389.4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法 柱体纵向长度伸缩振动模式
GB/T 5594.1-1985
现行
GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
GB/T 5594.2-1985
现行
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
GB/T 5594.3-1985
被代替
GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.4-1985
被代替