GB/T 1957-1981
被代替
T/ZZB Q063-2022
现行
团体标准
T/ZZB Q063-2022 半导体器件间歇工作寿命试验设备
T/ZZB Q063-2022 Semiconductor device intermittent operation life test equipment
价格:
$ 20.00
基本信息
标准编号:
T/ZZB Q063-2022
标准类型:
团体标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电子试验用仪器设备
国际标准分类名称:
测量仪器仪表
发布日期:
2022-10-14
实施日期:
2022-10-20
归口单位:
浙江省质量协会
适用范围
主要技术内容:本文件规定了半导体器件间歇工作寿命试验设备（以下简称寿命试验设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。本文件适用于验证Si\GaN\SiC材料任意封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT等半导体功率器件的使用寿命，进行加速失效分析间歇工作寿命的试验设备
研制信息
起草单位:
杭州高坤电子科技有限公司、深圳基本半导体有限公司、浙江大学电气工程学院、士兰微电子股份有限公司、捷捷半导体有限公司、上海季丰电子股份有限公司、北京中科新微特科技开发股份有限公司、杭州电子科技大学、中国计量大学
起草人:
胡久恒、代凯旋、周恺超、史少礼、许静、连加俤、和巍巍、罗皓泽、钱清友、邹光炜、潘子升、夏姚忠、丁兆达、王永乐、李俊