GB/T 4080-1983
被代替
T/CAB 0180-2022
现行
团体标准
T/CAB 0180-2022 GAGG晶体及晶片阵列性能测量方法
T/CAB 0180-2022 GAGG crystal and chip array performance measurement method
价格:
$ 20.00
基本信息
标准编号:
T/CAB 0180-2022
标准类型:
团体标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
能源、核技术
国际标准分类名称:
辐射测量
发布日期:
2022-09-29
实施日期:
2022-09-29
归口单位:
中国产学研合作促进会
适用范围
范围:本文件适用于GAGG晶体及晶片阵列性能测量; 主要技术内容:本文件规定了掺铈钆铝镓石榴石（Cerium-doped Gadolinium Aluminum Gallium Garnet，Gd3Al2Ga3O12，英文缩写GAGG）晶体及晶片阵列外观及几何特性（外观、尺寸、翘曲度、总厚度偏差、表面粗糙度、垂直度、平行度等）的检测方法，以及辐射特性（光输出、相对能量转换效率、闪烁光衰减长度、发射光谱、闪烁余辉时间、晶体阵列的心角比等）的测量方法
研制信息
起草单位:
眉山博雅新材料股份有限公司、中物院核物理与化学研究所、上海联影医疗科技股份有限公司、广西国盛稀土新材料有限公司
起草人:
王宇、李敏、梁振兴、郭洪生、丁言国、徐旭升