DB35/T 1193-2011 现行 福建省地方标准

DB35/T 1193-2011 半导体发光二极管芯片

DB35/T 1193-2011 Semiconductor light-emitting diode chip

发布日期: 2011-10-28 实施日期: 2012-02-15 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们
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基本信息

标准编号: DB35/T 1193-2011
标准类型: 地方标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 半导体发光器件
国际标准分类名称: 光电子学、激光设备
发布日期: 2011-10-28
实施日期: 2012-02-15
发布单位/组织: 福建省质量技术监督局
归口单位: 福建省信息化局
页数: 16 页

适用范围

本标准规定了半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、包装、贮存和运输。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光半导体发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行

研制信息

起草单位:

国家半导体发光器件(L E D )应用产品质量监督检验中心、厦门市产品质量监督 检验院、厦门市三安光电科技有限公司、厦门市标准化协会

起草人:

刘毅清、葛莉荭、梁奋、陈晓玲、蔡伟智、傅诺毅、庄鹏、庄庆瑞、田力军、 李仲超

页数: 16 页

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