SJ/T 2658.8-2015 现行 行业标准-电子

SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度

SJ/T 2658.8-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 8: Radiant Intensity

发布日期: 2015-10-10 实施日期: 2016-04-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们
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基本信息

标准编号: SJ/T 2658.8-2015
标准类型: 行业标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 半导体发光器件
国际标准分类名称: 半导体分立器件
发布日期: 2015-10-10
实施日期: 2016-04-01
发布单位/组织: 工业和信息化部
归口单位: 工业和信息化部电子工业标准化研究院
页数: 5 页

研制信息

起草单位:

工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人:

张戈、赵英

页数: 5 页

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