SJ/T 10243-1991 现行 行业标准-电子

SJ/T 10243-1991 微波集成电路用氧化铝陶瓷基片

SJ/T 10243-1991 Microwave ceramic dielectric materials--Alumina ceramic substrates for microwave integrated circuits

发布日期: 1991-05-28 实施日期: 1991-12-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们
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基本信息

标准编号: SJ/T 10243-1991
标准类型: 行业标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 电子设备与专用材料、零件、结构件
国际标准分类名称: 集成电路、微电子学
发布日期: 1991-05-28
实施日期: 1991-12-01
页数: 7 页

研制信息

起草单位:

机械电子工业部电子标准化研究所、国营799厂

起草人:

王玉功、王秀琳

页数: 7 页

引用标准

GB/T 1031-1995 表面粗糙度 参数及其数值 GB/T 1031-2009 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 表面粗糙度参数及其数值 GB/T 1958-2004 产品几何量技术规范(GPS) 形状和位置公差 检测规定 GB/T 1958-2017 产品几何技术规范(GPS)几何公差 检测与验证 GB/T 2413-1981 压电陶瓷材料体积密度测量方法 GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.2-2008 计数抽样检验程序 第2部分:按极限质量(LQ)检索的孤立批检验抽样方案 GB/T 2828.3-2008 计数抽样检验程序 第3部分:跳批抽样程序 GB/T 2828.4-2008 计数抽样检验程序 第4部分:声称质量水平的评定程序 GB/T 2828.5-2011 计数抽样检验程序 第5部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批序贯抽样检验系统 GB/T 2828.10-2010 计数抽样检验程序 第10部分:GB/T 2828计数抽样检验系列标准导则 GB/T 2828.11-2008 计数抽样检验程序 第11部分:小总体声称质量水平的评定程序 GB/T 2829-2002 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验) GB 5592 GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料 GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料 GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法 GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法 GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 GB/T 6598-1986 小角激光光散射法测定聚苯乙烯标准样品的重均分子量 GB 9531 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 2829-2025 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)

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