SJ 3169-1988 ＳＴ、ＳＺ型单相二极不可重接连接器

GB/T 2423.43-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 振动、冲击和类似动力学试验样品的安装 GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Eg：撞击 弹簧锤 GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABDM：气候顺序 GB/T 2423.45-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABDM：气候顺序 GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ef：撞击 摆锤 GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fg：声振 GB/T 2423.47-2018 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fg：声振 GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ff：振动——时间历程法 GB/T 2423.48-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ff：振动——时间历程法 GB/T 2423.48-2018 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ff:振动 时间历程和正弦拍频法 GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fe：振动——正弦拍频法 GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy：恒定湿热主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.50-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy：恒定湿热 主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.50-2025 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ke：流动混合气体腐蚀试验 GB/T 2423.51-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ke：流动混合气体腐蚀试验 GB/T 2423.51-2020 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ke：流动混合气体腐蚀试验 GB/T 2423.52-2003 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验77：结构强度与撞击 GB/T 2423.53-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Xb：由手的摩擦造成标记和印刷文字的磨损 GB/T 2423.54-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Xc：流体污染 GB/T 2423.54-2022 环境试验 第2部分：试验方法 试验Xc：流体污染 GB/T 2423.55-2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Eh：锤击试验 GB/T 2423.55-2023 环境试验 第2部分：试验方法 试验Eh：锤击试验 GB/T 2423.56-2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动(数字控制)和导则 GB/T 2423.56-2018 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则 GB/T 2423.56-2023 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则 GB/T 2423.57-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ei：冲击 冲击响应谱合成 GB/T 2423.58-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fi：振动 混合模式 GB/T 2423.59-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABMFh：温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合 GB/T 2423.60-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验U：引出端及整体安装件强度 GB/T 2423.61-2018 环境试验 第2部分：试验方法试验和导则：大型试件砂尘试验 GB/T 2423.62-2018 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fx和导则：多输入多输出振动 GB/T 2423.63-2019 环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度(低温、高温)/低气压/振动(混合模式)综合 GB/T 2423.64-2023 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fj：振动 长时间历程再现 GB/T 2423.65-2024 环境试验 第2部分：试验方法 试验：盐雾/温度/湿度/太阳辐射综合 GB/T 2423.66-2025 环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度/湿度/静负载综合 GB/T 2423.101-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：倾斜和摇摆 GB/T 2423.101-2025 环境试验 第2部分：试验方法 试验：倾斜和摇摆 GB/T 2423.102-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合 GB/T 2484-1994 普通磨具 代号和标记 GB/T 2484-2006 固结磨具 一般要求 GB/T 2484-2018 固结磨具 一般要求 GB/T 2484-2023 固结磨具 形状类型、标记和标志 GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.2-2008 计数抽样检验程序 第2部分：按极限质量(LQ)检索的孤立批检验抽样方案 GB/T 2828.3-2008 计数抽样检验程序 第3部分：跳批抽样程序 GB/T 2828.4-2008 计数抽样检验程序 第4部分：声称质量水平的评定程序 GB/T 2828.5-2011 计数抽样检验程序 第5部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批序贯抽样检验系统 GB/T 2828.10-2010 计数抽样检验程序 第10部分：GB/T 2828计数抽样检验系列标准导则 GB/T 2828.11-2008 计数抽样检验程序 第11部分：小总体声称质量水平的评定程序 GB/T 2829-2002 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验) GB/T 2829-2025 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验) GB/T 4210-2001 电工术语 电子设备用机电元件 GB/T 4210-2015 电工术语 电子设备用机电元件 GB 5023.3-1997 额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆 第3部分：固定布线用无护套电缆 GB/T 5023.3-2008 额定电压450/750 V及以下聚氯乙烯绝缘电缆 第3部分：固定布线用无护套电缆 GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分：总则 GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分：一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分：载流容量试验 GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分：动态应力试验 GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分：撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分：气候试验和锡焊试验 GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分：机械操作试验和密封性试验 GB/T 5095.8-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分：连接器、接触件及引出端的机械试验 GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分：杂项试验 GB/T 5095.11-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分：气候试验 GB/T 5095.12-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分：锡焊试验 第六篇：试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂 GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分：接触件和引出端的机械试验 第八篇：试验15h接触件固定机构耐工具使用性 GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法 GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射 GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减(插入损耗) GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动 GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR) GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰