GB/T 4855-1984
废止
GB/T 42968.3-2025
现行
国家标准
GB/T 42968.3-2025 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入(BCI)法
GB/T 42968.3-2025 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 3:Bulk current injection (BCI) method
价格:
$ 50.00
基本信息
标准编号:
GB/T 42968.3-2025
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2025-12-02
实施日期:
2025-12-02
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
页数:
24 页
适用范围
本文件描述了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下利用大电流注入(BCI)法测量集成电路(IC)抗扰度的试验方法，例如，由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。这种方法仅用于有板外连线的IC，例如连接到电缆束。本试验方法把RF电流注入到一根或一组线缆。
本文件为设备中的半导体器件在无用RF电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。
研制信息
起草单位:
中国电子技术标准化研究院、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、天津先进技术研究院、厦门海诺达科学仪器有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中山大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、南京容向测试设备有限公司、北汽福田汽车股份有限公司、中汽研新能源汽车检验中心(天津)有限公司、国网电力科学研究院有限公司、东南大学、中国合格评定国家认可中心、苏州泰思特电子科技有限公司、青岛市产品质量检验研究院、中国信息通信研究院、北京福测电子仪器有限公司、宇通客车股份有限公司、中家院(北京)检测认证有限公司、广州汽车集团股份有限公司汽车工程研究院、湖南进芯电子科技有限公司、广州市爱浦电子科技有限公司
起草人:
付君、崔强、雷黎丽、朱赛、朱昨庆、叶畅、方文啸、邹广才、张红丽、邵伟恒、黄雪梅、王文杰、孙婧、梁吉明、邢立文、李腾飞、张洁、杨志超、周香、刘佳、胡小军、王紫任、兰德福、张高杰、张颖、付国良、易峰、薛涛