GB/T 2413-1981
现行
GB/T 37406-2019
现行
国家标准
GB/T 37406-2019 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法
GB/T 37406-2019 Detection method of degree of sphericity of spherical silica for electronic packaging—Particle dynamic photoelectric projection method
基本信息
标准编号:
GB/T 37406-2019
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电子设备与专用材料、零件、结构件
国际标准分类名称:
电子技术专用材料
发布日期:
2019-05-10
实施日期:
2019-12-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
页数:
6 页
适用范围
本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉颗粒球形度、平均球形度及球形度分布的颗粒动态光电投影测试方法。
本标准适用于4 μm~300 μm的电子封装用球形二氧化硅微粉球形颗粒。
研制信息
起草单位:
江苏联瑞新材料股份有限公司、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、汉高华威电子(连云港)有限公司
起草人:
曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪、姜兵、封丽娟、李冰、陈进、夏永生、戴春明、马涛
引用标准
相关标准
GB/T 3389.4-1982
被代替
GB/T 3389.4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法 柱体纵向长度伸缩振动模式
GB/T 5594.1-1985
现行
GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
GB/T 5594.2-1985
现行
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
GB/T 5594.3-1985
被代替
GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.4-1985
被代替