GB/T 13713-1992 纤维光学分路器 第一部分∶总规范

GB/T 4459.2-2003 机械制图 齿轮表示法 GB/T 4459.3-2000 机械制图 花键表示法 GB/T 4459.4-2003 机械制图 弹簧表示法 GB/T 4459.5-1999 机械制图 中心孔表示法 GB/T 4459.6-1996 机械制图 动密封圈表示法 GB/T 4459.7-1998 机械制图 滚动轴承表示法 GB/T 4459.7-2017 机械制图 滚动轴承表示法 GB/T 4459.8-2009 机械制图 动密封圈 第1部分：通用简化表示法 GB/T 4459.9-2009 机械制图 动密封圈 第2部分：特征简化表示法 GB/T 4460-2013 机械制图 机构运动简图用图形符号 GB 3100-1993 国际单位制及其应用 GB/T 1800.1-1997 极限与配合 基础 第1部分：词汇 GB/T 1800.1-2009 产品几何技术规范(GPS) 极限与配合 第1部分：公差、偏差和配合的基础 GB/T 1800.1-2020 产品几何技术规范(GPS) 线性尺寸公差ISO代号体系 第1部分：公差、偏差和配合的基础 GB/T 1800.2-1998 极限与配合 基础 第2部分：公差、偏差和配合的基本规定 GB/T 1800.2-2009 产品几何技术规范(GPS) 极限与配合 第2部分：标准公差等级和孔、轴极限偏差表 GB/T 1800.2-2020 产品几何技术规范(GPS) 线性尺寸公差ISO代号体系 第2部分：标准公差带代号和孔、轴的极限偏差表 GB/T 1800.3-1998 极限与配合 基础 第3部分：标准公差和基本偏差数值表 GB/T 1800.4-1999 极限与配合 标准公差等级和孔、轴的极限偏差表 GB/T 1801-1999 极限与配合 公差带和配合的选择 GB/T 1801-2009 产品几何技术规范(GPS) 极限与配合 公差带和配合的选择 GB 1800~1804 GB/T 1803-2003 极限与配合 尺寸至18mm孔、轴公差带 GB/T 1804-2000 一般公差 未注公差的线性和角度尺寸的公差 GB/T 2421-1999 电工电子产品环境试验 第1部分：总则 GB/T 2421-2020 环境试验 概述和指南 GB/T 2421.1-2008 电工电子产品环境试验 概述和指南 GB/T 2421.2-2008 电工电子产品环境试验 规范编制者用信息 试验概要 GB/T 2422-1995 电工电子产品环境试验 术语 GB/T 2422-2012 环境试验 试验方法编写导则 术语和定义 GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.2-2001 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca：恒定湿热试验方法 GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 GB/T 2423.3-2016 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Db：交变湿热试验方法 GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热(12h＋12h循环) GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击 GB/T 2423.5-2019 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击 GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Eb和导则：碰撞 GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc和导则：振动(正弦) GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动(正弦) GB/T 2423.10-2019 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动(正弦) GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Ga和导则：稳态加速度 GB/T 2423.15-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ga和导则：稳态加速度 GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J和导则：长霉 GB/T 2423.16-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉 GB/T 2423.16-2022 环境试验 第2部分：试验方法 试验J和导则：长霉 GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ka：盐雾试验方法 GB/T 2423.17-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾 GB/T 2423.17-2024 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾 GB/T 2423.19-2013 环境试验 第2部分：试验方法 试验Kc：接触点和连接件的二氧化硫试验 GB/T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验 M：低气压试验方法 GB/T 2423.21-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M：低气压 GB/T 2423.21-2025 环境试验 第2部分：试验方法 试验M：低气压 GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验 试验Q：密封 GB/T 2423.23-2013 环境试验 第2部分：试验方法 试验Q：密封 GB/T 2423.27-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验 GB/T 2423.27-2020 环境试验 第2部分：试验方法 试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验 GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Sa：模拟地面上的太阳辐射 GB/T 2423.24-2013 环境试验 第2部分：试验方法 试验Sa：模拟地面上的太阳辐射及其试验导则 GB/T 2423.24-2022 环境试验 第2部分：试验方法 试验S：模拟地面上的太阳辐射及太阳辐射试验和气候老化试验导则 GB/T 2424.14-1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 太阳辐射试验导则 IEC 50(581) IECQ/QC 001001 IECQ/QC 001002 IEC 102 IEC 410 IEC 695-2-2 IEC 68-2-38 IEC 617 ISO 370 ISO 1000

IEC 875/1-86