GB/T 4855-1984
废止
GB/T 19403.1-2003
现行
国家标准
GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)
GB/T 19403.1-2003 Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part11:Section1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
基本信息
标准编号:
GB/T 19403.1-2003
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2003-11-24
实施日期:
2004-08-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位:
全国集成电路标准化分技术委员会
页数:
24 页
研制信息
起草单位:
信息产业部第四研究所
起草人:
魏华、王静
采用标准
IEC 60748-11-1:1992