GB/T 12635-1990 碳膜电阻器用陶瓷基体

GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法 GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 GB/T 5594.7-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法 GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构测定方法 GB/T 191-2000 包装储运图示标志 GB/T 191-2008 包装储运图示标志 GB/T 2421-1999 电工电子产品环境试验 第1部分：总则 GB/T 2421-2020 环境试验 概述和指南 GB/T 2421.1-2008 电工电子产品环境试验 概述和指南 GB/T 2421.2-2008 电工电子产品环境试验 规范编制者用信息 试验概要 GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.2-2008 计数抽样检验程序 第2部分：按极限质量(LQ)检索的孤立批检验抽样方案 GB/T 2828.3-2008 计数抽样检验程序 第3部分：跳批抽样程序 GB/T 2828.4-2008 计数抽样检验程序 第4部分：声称质量水平的评定程序 GB/T 2828.5-2011 计数抽样检验程序 第5部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批序贯抽样检验系统 GB/T 2828.10-2010 计数抽样检验程序 第10部分：GB/T 2828计数抽样检验系列标准导则 GB/T 2828.11-2008 计数抽样检验程序 第11部分：小总体声称质量水平的评定程序 GB/T 2829-2002 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验) GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料 GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料 GB/T 191-2025 包装储运图形符号标志 GB/T 2829-2025 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)