GB/T 14264-1993
被代替
SJ/T 11586-2016
现行
行业标准-电子
SJ/T 11586-2016 半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
SJ/T 11586-2016 The method for testing the total radiation exposure of semiconductor devices to 10KeV low-energy X-rays
价格:
$ 30
基本信息
标准编号:
SJ/T 11586-2016
标准类型:
行业标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2016-01-15
实施日期:
2016-06-01
发布单位/组织:
工业和信息化部
归口单位:
工业和信息化部电子工业标准化研究院
页数:
12 页
研制信息
起草单位:
工业和信息化部电子第五研究所
起草人:
罗宏伟、何玉娟、恩云飞 等