GB/T 7581-1987
现行
T/CIE 116-2021
现行
团体标准
T/CIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序
T/CIE 116-2021 Fault tree analysis method and procedure of electronic components
价格:
$ 41.00
基本信息
标准编号:
T/CIE 116-2021
标准类型:
团体标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
基础标准与通用方法
国际标准分类名称:
半导体分立器件
发布日期:
2021-11-22
实施日期:
2022-02-01
发布单位/组织:
中国电子学会
归口单位:
中国电子学会可靠性分会
页数:
28 页
适用范围
本文件确立了基于失效物理的电子元器件故障树建树方法及故障树分析程序。描述了以故障树为载体的电子元器件故障信息库构建方法。
本文件适用于电子元器件在设计、研制、生产和使用阶段进行故障树建造和失效路径分析，以及电子元器件在设计和应用阶段的潜在失效问题识别，其结果可用于电子元器件的质量归零问题分析、可靠性设计分析和应用风险分析。
本文件方法适用于半导体分立器件、半导体集成电路、混合集成电路、机电元件、印制电路板等电子元器件。
研制信息
起草单位:
工业和信息化部电子第五研究所
起草人:
何小琦、陈媛、恩云飞、来萍、宋芳芳、王蕴辉、支越、路国光、任艳
引用标准
GB/T 2900.99-2016 电工术语 可信性
GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号
GB/T 4888-2009 故障树名词术语和符号
GB/T 7829-1987 故障树分析程序
GJB 450A
GJB 451A
GJB/Z 768A
GJB 8118
IEC 61025