DZ/T 0101.12-1994
现行
JJF 1682-2017
现行
国家计量技术规范JJF
JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范
JJF 1682-2017 Calibration Specification for Grating Micrometers
基本信息
标准编号:
JJF 1682-2017
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
-
国际标准分类名称:
-
发布日期:
2017-11-20
实施日期:
2018-05-20
发布单位/组织:
国家质量监督检验检疫总局
归口单位:
全国几何量工程参量计量技术委员会
页数:
28 页
适用范围
本规范适用于0.1 μm级行程为0～10 mm、0.2 μm级行程为0～25 mm、0.5 μm级行程为0～50 mm、1 μm级～10 μm级行程为0～100 mm的光栅式测微仪校准。
研制信息
起草单位:
中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院
起草人:
曹学东、匡龙、冉庆