GB/T 4855-1984
废止
T/CSTM 01003-2023
现行
团体标准
T/CSTM 01003-2023 相变存储器电性能测试方法
T/CSTM 01003-2023 The method for testing the electrical performance of phase change memory
价格:
$ 20.00
基本信息
标准编号:
T/CSTM 01003-2023
标准类型:
团体标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电子元器件与信息技术
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2023-03-07
实施日期:
2023-06-07
归口单位:
中关村材料试验技术联盟
页数:
24 页
适用范围
范围:本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。 本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）; 主要技术内容:本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）
研制信息
起草单位:
华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院
起草人:
缪向水、何强、童浩、程晓敏、刘峻、李硕、任玲玲、李锟