GB/T 4855-1984
废止
GB/T 35003-2018
现行
国家标准
GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
GB/T 35003-2018 Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
基本信息
标准编号:
GB/T 35003-2018
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2018-03-15
实施日期:
2018-08-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
7 页
适用范围
本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。
研制信息
起草单位:
中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、北京兆易创新科技股份有限公司、深圳国微电子有限公司、成都华微电子科技有限公司
起草人:
罗晓羽、董艺、郭晓宇、高硕、刘妙、谢休华