GB/T 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范

SJ/T 10555 IECQ QC001002 GB/T 191-2000 包装储运图示标志 GB/T 191-2008 包装储运图示标志 GB/T 2421-1999 电工电子产品环境试验 第1部分：总则 GB/T 2421-2020 环境试验 概述和指南 GB/T 2421.1-2008 电工电子产品环境试验 概述和指南 GB/T 2421.2-2008 电工电子产品环境试验 规范编制者用信息 试验概要 GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.2-2001 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Db：交变湿热试验方法 GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热(12h＋12h循环) GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击 GB/T 2423.5-2019 环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击 GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc和导则：振动(正弦) GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动(正弦) GB/T 2423.10-2019 环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动(正弦) GB/T 2423.20-2014 环境试验 第2部分：试验方法 试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验 GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.2-2008 计数抽样检验程序 第2部分：按极限质量(LQ)检索的孤立批检验抽样方案 GB/T 2828.3-2008 计数抽样检验程序 第3部分：跳批抽样程序 GB/T 2828.4-2008 计数抽样检验程序 第4部分：声称质量水平的评定程序 GB/T 2828.5-2011 计数抽样检验程序 第5部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批序贯抽样检验系统 GB/T 2828.10-2010 计数抽样检验程序 第10部分：GB/T 2828计数抽样检验系列标准导则 GB/T 2828.11-2008 计数抽样检验程序 第11部分：小总体声称质量水平的评定程序 GB/T 4475-1995 敏感元器件术语 GB/T 7408-1994 数据元和交换格式 信息交换 日期和时间表示法 GB/T 7408-2005 数据元和交换格式 信息交换 日期和时间表示法 GB/T 7408.1-2023 日期和时间 信息交换表示法 第1部分：基本原则 GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法 SJ/T 1155-1993 敏感元器件及传感器型号命名方法 SJ/T 10554-1994 敏感元器件 文字符号 GB/T 191-2025 包装储运图形符号标志 GB/T 7408.2-2025 日期和时间 信息交换表示法 第2部分：扩展

IEC 738-1:1994