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GB/T 14619-2013 现行
GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
简介
本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的生产和采购,采用厚膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片（以下简称基片）也可参照使用。
通用商品信息
| 委员会 | 中国电子技术标准化研究院 |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 14619-2013 |
| CCS | 电子设备与专用材料、零件、结构件 |
| ICS | 电子技术专用材料 |
| 实施日期 | 2014-04-15 |
价格
$ 36.00
小计
$ 36.00
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 36.00