GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 9531.1-1988 GB/T 16534-2009 精细陶瓷室温硬度试验方法 GJB 548B-2005 GJB 1201.1-1991 GB/T 1958-2004 产品几何量技术规范(GPS) 形状和位置公差 检测规定 GB/T 1958-2017 产品几何技术规范(GPS)几何公差 检测与验证 GB/T 2413-1981 压电陶瓷材料体积密度测量方法 GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2829-2002 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验) GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料 GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料 GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法 GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 GB/T 5594.7-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法 GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 GB/T 5598-1985 氧化铍瓷导热系数测定方法 GB/T 5598-2015 氧化铍瓷导热系数测定方法 GB/T 6062-2002 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性 GB/T 6062-2009 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性 GB/T 6569-1986 工程陶瓷弯曲强度试验方法 GB/T 6569-2006 精细陶瓷弯曲强度试验方法 GB/T 6900-2006 铝硅系耐火材料化学分析方法 GB/T 6900-2016 铝硅系耐火材料化学分析方法 GB/T 6900.1-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 重量法测定灼烧减量 GB/T 6900.2-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 重量-钼蓝光度法测定二氧化硅量 GB/T 6900.3-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁量 GB/T 6900.4-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 EDTA容量法测定氧化铝量 GB/T 6900.5-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 过氧化氢光度法测定二氧化钛量 GB/T 6900.6-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 EDTA容量法测定氧化钙量 GB/T 6900.7-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 二甲苯胺蓝Ⅰ-溴化十六烷基三甲铵光度法测定氧化镁量 GB/T 6900.8-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 原子吸收分光光度法测定氧化钙、氧化镁量 GB/T 6900.9-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 原子吸收分光光度法测定氧化钾、氧化钠量 GB/T 6900.10-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 过硫酸铵光度法测定氧化锰量 GB/T 6900.11-1986 粘土、高铝质耐火材料化学分析方法 钼蓝光度法测定五氧化二磷量 GB/T 6900-2025 铝硅系耐火材料化学分析方法 GB/T 2829-2025 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)