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GB/T 14141-1993
GB/T 14141-1993 Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
通用商品信息
| 文献类型 | 国家标准 |
|---|---|
| 发布单位 | 国家技术监督局 |
| 标准状态 | 被代替 |
| 标准编号 | GB/T 14141-1993 |
| CCS | 金属物理性能试验方法 |
| ICS | 半导体材料 |
| 实施日期 | 1993-10-01 |
价格
$ 29
小计
$ 29
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 29