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GB/T 4937.16-2025 现行
GB/T 4937.16-2025 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 16:Particle impact noise detection(PIND)
简介
本文件描述了空腔器件内存在自由粒子的检测方法，如陶瓷碎片、残余键合引线或焊料球（金属颗粒)。
本试验是非破坏性试验。
通用商品信息
| 委员会 | 全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 4937.16-2025 |
| CCS | 半导体分立器件 |
| ICS | 半导体器分立件综合 |
| 实施日期 | 2026-05-01 |
价格
$ 54
小计
$ 54
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 54