GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 4937.16-2025
现行
国家标准
GB/T 4937.16-2025 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测(PIND)
GB/T 4937.16-2025 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 16:Particle impact noise detection(PIND)
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.16-2025
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2025-10-31
实施日期:
2026-05-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
16 页
适用范围
本文件描述了空腔器件内存在自由粒子的检测方法，如陶瓷碎片、残余键合引线或焊料球（金属颗粒)。
本试验是非破坏性试验。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所、广州翔声智能科技有限公司、珠海市精实测控技术有限公司、广州海关技术中心、安徽高芯众科半导体有限公司、装备发展部军事代表局驻武汉地区军代表室
起草人:
席善斌、裴选、张嘉声、彭浩、孙博、辛长林、何祥旺、许志钦、王英程、裴晓波、邱钰、张魁、宋玉玺、武立会、刘玮
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采用标准
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