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T/CASAS 030-2023 现行
T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法
简介
主要技术内容:T/CASAS 030—2023《GaN毫米波前端芯片测试方法》描述了GaN毫米波前端芯片的术语、定义、测试条件、测试要求和测试方法，结合了近几年科研人员在毫米波氮化镓前端芯片领域的研发、测试评估以及应用方面的经验总结，对毫米波氮化镓前端芯片性能指标的测试方法进行了详细的规定，包括且不限于测试目的、测试环境、测试方法及步骤、测试工具及仪表等
通用商品信息
| 委员会 | 北京第三代半导体产业技术创新战略联盟 |
|---|---|
| 文献类型 | 团体标准 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CASAS 030-2023 |
| ICS | 半导体器分立件综合 |
| 实施日期 | 2023-07-01 |
价格
$ 20.00
小计
$ 20.00
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 20.00